Sequid TDR阻抗測試方案（二）
圖4顯示了4層印刷測試電路上的差分傳輸線的阻抗曲線。傳輸路徑一開始是第一層(頂層)中的微帶線，然后通過一個過孔轉到第二層，此時仍然是微帶線，再通過第二個過孔回到第一層表面。這個路線經過幾次反復，最終在第一層終止。顯然這個測試電路不能達到100Ω的目標阻抗：微帶線和帶狀線的特征阻抗分別是Z0≈120Ω和Z0≈110Ω。從這張圖中可以明顯看出，過孔的電容因素會嚴重影響實際系統中的信號完整性，尤其是在高數據速率時更甚。
圖4：在FR4基板的兩個不同層上布線的差分線反射圖
作為最后一個例子，圖5顯示了USB 3.0連接器和電纜的反射圖。USB 3.0組件的額定阻抗是Z0=90Ω±7Ω。TDR設備仍然工作在100Ω的參考阻抗上(時間范圍t<12.2ns)。從測試適配器到USB 3.0連接器的轉換引起的第一次反射發生在大約12.3ns，正如預期的那樣與所有測量一致。曲線3(綠色)代表開放式適配器的結果，其中的快速阻抗上升指示適配器的(高阻抗)末端。曲線4和5(紅色和藍色)代表兩種不同的USB 3.0電纜組件，每個組件由一個適配器和一個后續電纜組成。雖然電纜都在規范之內，但適配器不符合規范。特別是紅色曲線表明最大阻抗約為122Ω，產生了嚴重反射，進而可能導致USB 3.0控制器降低數據速率。
總之，所有例子清楚地表明，開發人員能夠利用DTDR-65直觀深入地觀察傳輸路徑。開發人員和質檢人員的任務通常包含對所獲得的結果進行容易理解的歸檔。這項任務非常重要，但遺憾的是非常耗時，而且單調乏味。不過這種不受歡迎的工作現在可以用內置的自動化報告生成工具極大地簡化，只需幾次點擊就能形成圖形化和統計性的擴展性評估結果。另外，對大多數普通線路類型來說還可以使用在線阻抗計算器。
圖5：帶開放電路(3)和兩個不同USB 3.0電纜組件(4和5)的USB 3.0適配器的反射圖
支持廣泛應用
必要的附件包含了高質量的相位調整過的同軸電纜以及TDR探針，可用于不同類型應用：工業探針用于生產過程中的系列測量，高精度探針用于研發——見圖6。DTDR-65還具有卓越的電磁屏蔽性能，完全可以在電池供電的移動應用中使用。
圖6：用于時域反射計DTDR-65的不同探針和附件
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